Tiêu chuẩn điện trở cách điện tiêu chuẩn Việt Nam

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 6748-1 : 2009

IEC 60115-1 : 2008

ĐIỆN TRỞ KHÔNG ĐỔl DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ- PHẦN 1: YÊU CẦU KỸ THUẬT CHUNG

Fixed resistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification

Lời nói đầu

TCVN 6748-1 : 2009 thay thế TCVN 6748-1: 2000;

TCVN 6748-1 : 2009 hoàn toàn tương đương với IEC 60115-1: 2008;

TCVN 6748-1: 2009 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

ĐIỆN TRỞ KHÔNG ĐỔI DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ- PHẦN 1: YÊU CẦU KỸ THUẬT CHUNG

Fixed resistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification

1. Quy định chung

1.1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này là một yêu cầu kỹ thuật chung và áp dụng cho các điện trở không đổi dùng trong thiết bị điện tử.

Tiêu chuẩn này quy định các thuật ngữ tiêu chuẩn, các quy trình kiểm tra và các phương pháp thử nghiệm dùng trong các yêu cầu kỹ thuật cụ thể và yêu cầu kỹ thuật từng phần của các linh kiện điện tử để đánh giá chất lượng hoặc mục đích khác.

1.2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu ghi năm công bố thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố thì áp dụng bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

IEC 60027 [tất cả các phần], Letter symbols to be used in electrical technology [Ký hiệu bằng chữ dùng trong kỹ thuật điện]

TCVN 8095 [IEC 60050] [tất cả các phần], Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế [IEV]

TCVN 6099-1: 2007 [IEC 60060-1:1989], Thử nghiệm điện áp cao - Phần 1: Định nghĩa và các yêu cầu thử nghiệm chung

TCVN 6747: 2009 [IEC 60062: 2004], Hệ thống mã dùng cho điện trở và tụ điện

IEC 60063: 1963, Amendment 1 [1967], Amendment 2 [1977], Preferred number series for resistors and capacitors [Dãy số ưu tiên đối với điện trở và tụ điện]

TCVN 7699-1: 2007 [IEC 60068-1:1988], Thử nghiệm môi trường - Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn

TCVN 7699-2-1: 2007 [IEC 60068-2-1: 2007], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-1: Các thử nghiệm - Thử nghiệm A: Lạnh

IEC 60068-2-2: 1974, Amendment 1 [1993], Amendment 2 [1994], Environmental testing - Part 2: Tests - Tests B: Dry heat [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-2: Các thử nghiệm - Thử nghiệm B: Nóng khô]

TCVN 7699-2-6: 2008 [IEC 60068-2-6:1995], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-6: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Fc: Rung [hình sin]]

TCVN 7699-2-11: 2007 [IEC 60068-2-11: 1981], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-11: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Ka: Sương muối

TCVN 7699-2-13: 2007 [IEC 60068-2-13:1983], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-13, Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: áp suất không khí thấp

TCVN 7699-2-14: 2007 [IEC 60068-2-14:1984, Amendment 1 [1986], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-14, Các thử nghiệm - Thử nghiệm N: Thay đổi nhiệt độ

IEC 60068-2-20: 1979, Amendment 2 [1987], Environmental testing - Part 2-20: Tests - Test T: Soldering [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-20, Các thử nghiệm - Thử nghiệm T: Hàn thiếc]

IEC 60068-2-21: 2006, Environmental testing Part 2: Tests . Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-21, Các thử nghiệm - Thử nghiệm U: Độ vững chắc của các chân và cơ cấu lắp đặt không tháo rời được]

TCVN 7699-2-27: 2007 [IEC 60068-2-27:1987], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-27, Các thử nghiệm - Thử nghiệm Ea và hướng dẫn: Xóc

TCVN 7699-2-29: 2007 [IEC 60068-2-29:1987], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-29: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Eb và hướng dẫn: Va đập

TCVN 7699 -2-30: 2007 [IEC 60068-2-30:2005], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-30: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Db: Nóng ẩm, chu kỳ [12 h + chu kỳ 12 h]

TCVN 7699-2-45: 2007 [IEC 60068-2-45:1980], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-45: Các thử nghiệm - Thử nghiệm XA và hướng dẫn: Ngâm trong dung môi làm sạch

IEC 60068-2-54: 2006, Environmental testing - Part 2-54: Tests - Test Ta: Solderability testing of electronic components by the wetting balance method [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-54: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Ta: Thử nghiệm khả năng hàn của linh kiện điện tử bằng phương pháp cân bằng ướt]

IEC 60068-2-58: 2005. Environmental testing - Part 2-58: Tests . Test Td: Solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of Surface Mounting Devices [SMD] [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-58: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Td: Khả năng hàn, khả năng chịu hoàn tan của kim loại và khả năng chịu nhiệt khi hàn của cơ cấu dùng để lắp đặt bề mặt [SMD]]

IEC 60068-2-67: 1995, Environmental testing - Part 2-67: Tests - Test Cy: Damp heat, steady state accelerated test primarily intended for components [Thử nghiệm môi trường - Phần 2-67: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Cy: Thử nghiệm nóng ẩm, ổn định, gia tốc chủ yếu cho các linh kiện]

TCVN 7699-2-78: 2007 [IEC 60068-2-78:2001], Thử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Cab: Thử nghiệm nóng ẩm, không đổi

IEC 60195: 1965, Method of measurement of current noise generated in fixed resistors [Phương pháp đo dòng điện tạp sinh ra từ điện trở cố định]

IEC 60286, Packaging of components for automatic handling [Đóng gói các linh kiện để vận chuyển tự động]

IEC 60294: 1969, Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations [Phương pháp đo kích thước của linh kiện hình trụ có hai chân theo trục]

IEC 60410: 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes [Kế hoạch lấy mẫu và quy trình lấy mẫu để kiểm tra định tính]

IEC 60440: 1973, Method of measurement of non-linearity in resistors [Phương pháp đo tính phi tuyến của điện trở

TCVN 7922: 2008 [IEC 60617: 2002], Ký hiệu bằng hình vẽ trên sơ đồ

IEC 60695-11-5: 2004, Fire hazard testing - Part 11-5: Test flames - Needle-flame test method - Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance [Thử nghiệm nguy cơ cháy - Phần 11-5: Ngọn lửa thử nghiệm - Phương pháp thử nghiệm ngọn lửa hình kim - Trang bị, bố trí thử nghiệm xác nhận và hướng dẫn]

IEC 61193-2: 2007, Quality assessment systems - Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages [Hệ thống đánh giá chất lượng - Phần 2: Chọn và sử dụng kế hoạch lấy mẫu để kiểm tra các linh kiện điện tử và bao gói]

IEC 61249-2-7: 2002, Materials for printed boards and other interconnecting structures - Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad - Epoxide woven E-glass laminated sheet of defined flammability [vertical buming test], copper-clad [Vật liệu dùng làm tấm mạch in và các kết cấu liên kết khác - Phần 2-7: Vật liệu nền tăng cường có phủ và không phủ - Tấm mỏng bằng len kính E epoxy có tính dễ cháy xác định [thử nghiệm cháy thẳng đứng], phủ đồng]

IEC 61249-2-22: 2005, Materials for printed boards and other interconnecting structures - Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad - Modified non-halogenated epoxide woven E-glass laminated sheet of detined flammability [vertical burning test], copper-clad [Vật liệu dùng làm tấm mạch in và các kết cấu liên kết khác - Phần 2-22: Vật liệu nền tăng cường có phủ và không phủ - Tấm mỏng bằng len kính E epoxy không phải halogen có sửa đổi, có tính dễ cháy xác định [thử nghiệm cháy thẳng đứng], phủ đồng]

IEC 61249-2-35, Materials for printed boards and other interconnecting structures - Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad - Modified epoxide woven E-glass laminated sheet of defined flammability [vertical burning test], copper-clad for lead-free assembly[1] [Vật liệu dùng làm tấm mạch in và các kết cấu liên kết khác - Phần 2-35: Vật liệu nền tăng cường có phủ và không phủ - Tấm mỏng bằng len kính E epoxy có thay đổi, có tính dễ cháy xác định [thử nghiệm cháy thẳng đứng], phủ đồng đối với cụm lắp ráp không dây]

IEC 61340-3-1: 2006, Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model [HBM] electrostatic discharge test waveform [Tĩnh điện - Phần 3-1: Phương pháp mô phỏng hiệu ứng tĩnh điện - Dạng sóng thử nghiệm phóng tĩnh điện mô hình cơ thể người [HBM]]

IEC 61760-1: 2006, Surface mounting technology - Part 1: Standard method for the specification of surface mounting components [SMDs] [Kỹ thuật lắp đặt bề mặt - Phần 1: Phương pháp tiêu chuẩn đối với yêu cầu kỹ thuật của các linh kiện lắp đặt bề mặt [SMD]]

IEC QC 001002-3: 1998, IEC Quality Assessment System for Electronic Components [IECQ] - Rules of procedure - Part 3: Approval procedures [Hệ thống đánh giá chất lượng IEC dùng cho các linh kiện điện tử [IECQ] - Nguyên tắc của quy trình - Phần 3: Quy trình phê chuẩn]

ISO 1000: 1992, SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain other units [Hệ đơn vị SI và các khuyến cáo dùng cho các bội số của chúng và các hệ đơn vị khác]

2. Dữ liệu kỹ thuật

2.1. Đơn vị và ký hiệu

Các đơn vị, ký hiệu bằng hình vẽ và ký hiệu bằng chữ, nếu áp dụng, phải được lấy theo các tiêu chuẩn sau:

- IEC 60027;

- TCVN 8095 [IEC 60050];

- TCVN 7922 [IEC 60617];

- ISO 1000

Khi có yêu cầu các thuật ngữ khác, thì các thuật ngữ đó phải phù hợp với các nguyên tắc của các tài liệu liệt kê trên đây.

2.2. Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.

2.2.1 Tiêu tán mức [category dissipation]

Một phần của tiêu tán danh định được xác định chính xác theo yêu cầu kỹ thuật cụ thể, áp dụng ở nhiệt độ mức trên, có tính đến đường cong suy giảm cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

CHÚ THÍCH 1: Đối với điện trở tiêu tán mức bằng 0, trong đó nhiệt độ mức trên là nhiệt độ lớn nhất của phần tử.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu tán danh định, nhiệt độ mức trên, đường cong giảm tải.

2.2.2. Dải nhiệt độ mức [category temperature range]

Dải nhiệt độ môi trường mà điện trở được thiết kế để làm việc liên tục; được cho bởi nhiệt độ mức dưới và mức trên.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ mức dưới, nhiệt độ mức trên.

2.2.3. Điện trở tới hạn [critical resistance]

Giá trị điện trở mà ở đó giá trị điện áp danh định bằng giới hạn điện áp phần tử [xem 2.2.18 và 2.2.11].

CHÚ THÍCH 1: Ở nhiệt độ môi trường là 70 °C, điện áp lớn nhất có thể đặt lên các chân điện trở là điện áp danh định tính toán nếu điện trở nhỏ hơn điện trở tới hạn, hoặc giới hạn điện áp phần tử nếu điện trở lớn hơn hoặc bằng điện trở tới hạn. Ở nhiệt độ khác 70 °C, phải tính đến đường cong suy giảm và giới hạn điện áp phần tử theo tính toán điện áp đặt vào bất kỳ.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: điện áp danh định, giới hạn điện áp phần tử.

2.2.4. Đường cong giảm tải [derating curve]

Đường cong chỉ ra tiêu tán cho phép lớn nhất ở nhiệt độ xung quanh từ nhiệt độ mức trên đến nhiệt độ mức dưới.

CHÚ THÍCH 1: Dải từ nhiệt độ mức dưới đến nhiệt độ danh định thể hiện tiêu tán danh định và từ nhiệt độ danh định đến nhiệt độ lớn nhất của phần tử thể hiện đường dốc xuống tuyến tính đến tiêu tán bằng 0 ở nhiệt độ lớn nhất của phần tử. Đường dốc này phụ thuộc vào các đặc tính nhiệt của điện trở, tức là khả năng đưa tiêu tán vào môi trường.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu tán danh định, nhiệt độ danh định, nhiệt độ lớn nhất của phần tử.

2.2.5. Họ [của linh kiện điện tử] [family [of electronic components]

Nhóm các linh kiện có thuộc tính vật lý trội hơn hẳn và/hoặc thỏa mãn một chức năng xác định.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhánh.

2.2.6. Hạng [grade]

Thuật ngữ chỉ các đặc tính chung bổ sung liên quan đến ứng dụng dự kiến, ví dụ các ứng dụng tuổi thọ.

CHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ "hạng" chỉ có thể dùng kết hợp với một hoặc nhiều từ khác [ví dụ hạng tuổi thọ] mà không là một chữ hoặc một số.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: cấp ổn định.

2.2.7. Điện trở có đế tản nhiệt [heat-sink resistor]

Loại điện trở được thiết kế để lắp vào đế tản nhiệt riêng.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện trở có cách điện.

2.2.8. Điện trở có cách điện [insulated resistor]

Điện trở thỏa mãn các yêu cầu về thử nghiệm chịu điện áp, thử nghiệm điện trở cách điện và thử nghiệm nóng ẩm không đối với điện áp phân cực đặt vào khi lắp đặt trên một tấm kim loại.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện trở có đế tản nhiệt.

2.2.9. Giá trị điện trở cách điện [insulation resistance]

Giá trị điện trở của toàn bộ điện trở cách điện được đo giữa các chân của điện trở nối với nhau và bề mặt dẫn bất kỳ dùng để lắp đặt.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện trở có cách điện.

2.2.10. Điện áp cách điện [insulation voltage]

Điện áp đỉnh lớn nhất có thể đặt vào trong điều kiện làm việc liên tục giữa các chân điện trở và bề mặt dẫn bất kỳ dùng để lắp đặt.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện trở có cách điện.

2.2.11. Giới hạn điện áp phần tử [limiting element voltage]

Điện áp một chiều hoặc điện áp hiệu dụng xoay chiều lớn nhất có thể đặt liên tục lên các chân của điện trở [thường phụ thuộc vào kích cỡ và công nghệ chế tạo điện trở].

CHÚ THÍCH 1: Trong tiêu chuẩn này, nếu dùng thuật ngữ "điện áp hiệu dụng xoay chiều" thì điện áp đỉnh không được lớn hơn 1,42 lần giá trị hiệu dụng.

CHÚ THÍCH 2: Điện áp này chỉ áp dụng cho các điện trở có giá trị lớn hơn hoặc bằng giá trị điện trở tới hạn.

CHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: điện áp danh định, điện trở tới hạn.

2.2.12. Nhiệt độ mức dưới [lower category temperature]

LCT

Nhiệt độ môi trường xung quanh thấp nhất tại đó điện trở được thiết kế để làm việc liên tục.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ mức trên, dải nhiệt độ mức.

2.2.13. Nhiệt độ lớn nhất của phần tử [maximum element temperature]

Nhiệt độ quy định lớn nhất ở điểm bất kỳ trên hoặc trong điện trở ở mọi điều kiện làm việc cho phép.

CHÚ THÍCH 1: Nhiệt độ lớn nhất của phần tử là tổng của nhiệt độ danh định và độ tăng nhiệt tạo ra do tiêu tán danh định. Đối với nhiệt độ môi trường xung quanh lớn hơn nhiệt độ danh định thì nhiệt độ lớn nhất của phần tử là tổng của nhiệt độ môi trường xung quanh và tiêu tán cho phép liên quan như quy định bởi đường cong giảm tải.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ lớn nhất trên bề mặt.

2.2.14. Nhiệt độ lớn nhất trên bề mặt [maximum surface temperature]

Nhiệt độ lớn nhất cho phép trên bề mặt bất kỳ của điện trở thuộc kiểu đó khi làm việc liên tục tại tiêu tán danh định ở nhiệt độ môi trường xung quanh là 70 °C.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ lớn nhất của phần tử.

2.2.15. Giá trị điện trở danh nghĩa [nominal resistance]

Giá trị điện trở được ấn định thường thể hiện trên điện trở.

2.2.16. Tiêu tán danh định [rated dissipation]

Tiêu tán lớn nhất cho phép ở nhiệt độ môi trường là 70 °C trong các điều kiện thử nghiệm độ bền tại 70 °C, và ở điều kiện đó, sự thay đổi cho phép của điện trở đối với thử nghiệm độ bền này không bị vượt quá.

CHÚ THÍCH 1: Nếu tiêu tán danh định phụ thuộc vào phương tiện đặc biệt hỗ trợ tản nhiệt vào môi trường, ví dụ, vật liệu mạch in đặc biệt, kích thước dây dẫn đặc biệt, bộ tản nhiệt thì các phương tiện này cần được nhận biết khi đề cập đến tiêu tán danh định.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ dùng cho điện trở có đế tản nhiệt được xác định là tiêu tán cho phép lớn nhất ở nhiệt độ môi trường ở 25 °C khi lắp trên bộ tản nhiệt chuẩn, trong các điều kiện về thử nghiệm độ bền ở nhiệt độ phòng đối với điện trở có đế tản nhiệt, và làm sự thay đổi về giá trị điện trở không lớn hơn giá trị được quy định cho thử nghiệm độ bền.

CHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ danh định, điện áp danh định.

2.2.17. Nhiệt độ danh định [rated temperature]

Nhiệt độ môi trường xung quanh tại đó có thể có tiêu tán danh định liên tục trong các điều kiện của thử nghiệm độ bền quy định đối với nhiệt độ này. Nhiệt độ danh định có giá trị bằng 70 °C trừ khi có quy định khác trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: tiêu tán danh định.

2.2.18. Điện áp danh định [rated voltage]

Ur

Điện áp một chiều hoặc điện áp hiệu dụng xoay chiều tính bằng căn bậc hai của tích điện trở danh nghĩa và tiêu tán danh định.

CHÚ THÍCH 1: Tại các giá trị điện trở lớn, điện áp danh định có thể không áp dụng do kích thước và kết cấu của điện trở [xem 2.2.11].

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu tán danh định, giới hạn điện áp phần tử.

2.2.19. Cấp ổn định [stability class]

Thuật ngữ thể hiện tập hợp các yêu cầu về ổn định được xác định trước, tức là các giới hạn thay đổi cụ thể về giá trị điện trở cho phép được ấn định cho các thử nghiệm riêng rẽ.

CHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ "cấp ổn định" chỉ có thể dùng kết hợp với số rõ ràng thể hiện yêu cầu ổn định điển hình đối với thử nghiệm dài hạn, ví dụ, độ bền ở nhiệt độ mức trên hoặc độ bền 1 000 h ở 70 °C. Yêu cầu độ bền đối với các thử nghiệm ngắn hạn thường thấp hơn so với các yêu cầu được chỉ ra bởi số của cấp ổn định.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: hạng.

2.2.20. Kiểu [style]

Sự chia nhỏ của loại, chủ yếu dựa theo kích thước, có thể có một vài biến thể khác nhau, thường là về cơ.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: loại.

2.2.21. Nhánh [của linh kiện điện tử] [subfamily [of electronic components]]

Nhóm các linh kiện trong họ được chế tạo bằng cùng phương pháp công nghệ.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: họ.

2.2.22. Điện trở chíp [surface mount resistor]

Điện trở không đổi có kích thước nhỏ và bản chất cũng như hình dạng các chân thích hợp cho việc dùng trong mạch lai và tấm mạch in.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: loại, kiểu.

2.2.23. Hệ số nhiệt điện trở [temperature coefficient of resistance]

α

Sự thay đổi tương đối của điện trở trong khoảng hai nhiệt độ cho trước chia cho sự chênh lệch nhiệt độ tạo ra thay đổi điện trở đó.

CHÚ THÍCH 1: Chú ý rằng việc sử dụng thuật ngữ này không có hàm ý chỉ ra độ tuyến tính của hàm số này, cũng không được coi hàm số này là tuyến tính.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ.

2.2.24. Độ tăng nhiệt [temperature rise]

Tr

Sự tăng của nhiệt độ trên hoặc trong điện trở tạo ra theo cách ứng dụng tản nhiệt và phụ thuộc vào các thuộc tính nhiệt của điện trở, tức là khả năng tản nhiệt vào môi trường.

2.2.25. Loại [type]

Nhóm linh kiện có cùng đặc điểm thiết kế và công nghệ chế tạo, cho phép nhóm lại để kiểm tra phê chuẩn chất lượng hoặc kiểm tra phù hợp chất lượng. Chúng được đề cập chung bằng một yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

CHÚ THÍCH 1: Các linh kiện được mô tả trong một số yêu cầu kỹ thuật cụ thể, có thể trong một vài trường hợp, được xem như cùng loại, vì thế có thể nhóm với nhau để đánh giá chất lượng.

CHÚ THÍCH 2: Các phụ kiện dùng để lắp đặt được bỏ qua, với điều kiện là chúng không có ảnh hưởng đáng kể đến các kết quả thử nghiệm.

CHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: kiểu.

2.2.26. Nhiệt độ mức trên [upper category temperature]

UCT

Nhiệt độ môi trường lớn nhất mà điện trở được thiết kế để làm việc liên tục, tại đó tiêu tán danh định được thể hiện theo tiêu tán mức.

CHÚ THÍCH 1: Đối với điện trở có đường thẳng giảm thông số đặc trưng giảm về tiêu tán mức bằng 0, nhiệt độ mức trên bằng với nhiệt độ lớn nhất của phần tử.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: nhiệt độ mức dưới, dải nhiệt độ mức.

2.2.27. Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ [variation of resistance with temperature]

Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ được biểu diễn bằng hệ số nhiệt điện trở.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: hệ số nhiệt điện trở.

2.2.28. Hư hại nhìn thấy được [visible damage]

Hư hại nhìn thấy được làm giảm khả năng sử dụng của điện trở theo mục đích dự kiến của nó.

2.2.29. Hệ số điện áp của điện trở [voltage coefficient of resistance]

Sự thay đổi thuận nghịch giá trị điện trở do đặt điện áp và được thể hiện bằng phần trăm của sự thay đổi điện trở theo điện áp đặt.

2.3. Giá trị ưu tiên

2.3.1. Quy định chung

Mỗi yêu cầu kỹ thuật từng phần phải nêu các giá trị ưu tiên tương ứng với từng nhánh; đối với các giá trị điện trở danh định, xem thêm 2.3.2.

2.3.2. Giá trị ưu tiên của điện trở danh nghĩa

Các giá trị ưu tiên của điện trở danh nghĩa được lấy từ dãy quy định trong IEC 60063.

2.4. Ghi nhãn

Các thông tin ghi nhãn thường được chọn từ liệt kê dưới đây, xếp theo thứ tự mức độ quan trọng:

a] điện trở danh nghĩa;

b] dung sai theo điện trở danh nghĩa;

c] năm và tháng [hoặc tuần] chế tạo;

d] số hiệu của yêu cầu kỹ thuật cụ thể và dạng chuẩn;

e] tên nhà chế tạo hoặc thương hiệu.

Điện trở phải được ghi nhãn rõ ràng với các điểm a] và b] trên đây và các mục còn lại nếu có thể. Tránh lặp lại thông tin ghi nhãn trên điện trở.

Bao bì chứa [các] điện trở phải ghi rõ tất cả các thông tin liệt kê trên đây.

Mọi ghi nhãn bổ sung không được gây hiểu nhầm.

Kiểu điện trở nhỏ thường không ghi được nhãn trên thân. Tuy nhiên, nếu áp dụng cách ghi nhãn nào đó lên thân thì điện trở phải được ghi nhãn tối thiểu với điện trở danh nghĩa theo TCVN 6747 [IEC 60062], Điều 3. Các yêu cầu cụ thể phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

2.5. Ghi mã

Khi ghi mã cho giá trị điện trở, dung sai hoặc ngày tháng chế tạo, phương pháp ghi mã phải được chọn theo quy định trong TCVN 6747 [IEC 60062].

2.6. Bao gói

Trong trường hợp thuộc đối tượng áp dụng, yêu cầu kỹ thuật từng phần phải cung cấp thông tin về ghi nhãn, tốt nhất là được chọn từ IEC 60286.

2.7. Bảo quản

Nếu không có quy định khác thì các điều kiện bảo quản không được vượt quá các giới hạn sau:

- nhiệt độ lớn nhất: 40 °C

- độ ẩm tương đối lớn nhất: 75 %

Điện trở phải được bảo quản trong bao gói ban đầu.

Các yêu cầu khác phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

2.8. Vận chuyển

Điều kiện môi trường khi vận chuyển có thể vượt quá các yêu cầu kỹ thuật ở trên trong thời gian hạn chế. Yêu cầu kỹ thuật liên quan có thể quy định các điều kiện thích hợp.

3. Quy trình đánh giá chất lượng

Khi tiêu chuẩn này và các yêu cầu kỹ thuật từng phần và yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan được sử dụng cho mục đích của hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử [IECQ] thì áp dụng các điều liên quan của Phụ lục Q.

4. Quy trình thử nghiệm và do

4.1. Quy định chung

Yêu cầu kỹ thuật từng phần và/hoặc yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống phải chỉ rõ các thử nghiệm cần thực hiện, các phép đo trước và sau mỗi thử nghiệm hoặc một nhóm nhỏ các thử nghiệm cũng như trình tự thực hiện thử nghiệm. Các bước của mỗi thử nghiệm được thực hiện theo đúng trình tự đã ghi. Các điều kiện đo phải giống nhau từ phép đo ban đầu đến phép đo kết thúc.

Nếu các yêu cầu kỹ thuật quốc gia trong hệ thống đánh giá chất lượng nào đó có các phương pháp khác với các phương pháp quy định trong các tài liệu trên thì phải được mô tả đầy đủ.

Các giới hạn cho trong tất cả các yêu cầu kỹ thuật là các giới hạn tuyệt đối. Phải áp dụng các quy tắc thực hiện phép đo có tính đến sự không đảm bảo đo [xem IEC QC 001002-3, Phụ lục C, Điều 2].

4.2. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

4.2.1. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm

Nếu không có quy định nào khác, tất cả các thử nghiệm và phép đo đều được thực hiện ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn như cho trong 5.3 của TCVN 7699-1 [IEC 60068-1]:

- Nhiệt độ: từ 15 °C đến 35 °C

- Độ ẩm tương đối: từ 25 % đến 75 %

- Áp suất không khí: từ 86 kPa đến 106 kPa.

Trước khi thực hiện phép đo, điện trở cần được để ở nhiệt độ đo trong thời gian đủ để toàn bộ điện trở đạt được nhiệt độ này. Thời gian phục hồi quy định ở cuối mỗi thử nghiệm là đủ cho mục đích này.

Khi các phép đo được thực hiện ở nhiệt độ khác với nhiệt độ quy định thì các kết quả đo được hiệu chỉnh theo nhiệt độ quy định, nếu cần thiết. Nhiệt độ môi trường trong quá trình đo được ghi trong báo cáo thử nghiệm. Trường hợp có nghi ngờ, các phép đo được thực hiện lại tại một nhiệt độ trong dải nhiệt độ chuẩn [như trong 4.2.3] và các điều kiện khác như được nêu trong yêu cầu kỹ thuật này.

Nếu các thử nghiệm được thực hiện tuần tự thì các phép đo kết thúc của thử nghiệm này có thể dùng làm các phép đo ban đầu của thử nghiệm tiếp theo.

Trong quá trình đo, điện trở không được đặt trước luồng gió hoặc dưới ánh nắng mặt trời hay các ảnh hưởng khác có thể gây ra sai số.

4.2.2. Điều kiện phục hồi

Nếu không có quy định nào khác, phục hồi được thực hiện ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm [4.2.1].

Nếu phục hồi cần thực hiện dưới các điều kiện khống chế chặt chẽ, thì sử dụng các điều kiện phục hồi có khống chế như ở 5.4.1 của TCVN 7699-1 [IEC 60068-1].

4.2.3. Điều kiện trọng tài

Với mục đích trọng tải, một trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm trọng tài nêu trong 5.2 của TCVN 7699-1 [IEC 60068-1], được chọn từ các điều kiện cho sau đây:

Bảng 1 - Điều kiện trọng tải

4.2.4 Điều kiện chuẩn

Các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho trong 5.1 của TCVN 7699-1 [IEC 60068-1] được dùng làm chuẩn, như sau:

- Nhiệt độ: 20 °C;

- Áp suất không khí: 101,3 kPa.

4.3 Làm khô

Khi yêu cầu phải làm khô thì điện trở được ổn định trước khi đo, sử dụng quy trình I hoặc quy trình II như cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Quy trình I: Để 24 h ± 4 h trong tủ sấy ở nhiệt độ 55 °C + 2 °C và độ ẩm tương đối không quá 20 %.

Quy trình II: Để 96 h ± 4 h trong tủ sấy ở nhiệt độ 100 °C + 5 °C.

Điện trở sau đó được làm nguội trong bình hút ẩm có chất hút ẩm thích hợp, như nhôm hoạt tính hoặc silica gel, và được giữ trong khoảng thời gian từ khi lấy ra khỏi tủ sấy đến khi bắt đầu các thử nghiệm quy định.

4.4. Kiểm tra bằng cách xem xét và kiểm tra kích thước

4.4.1. Kiểm tra bằng cách xem xét

Điều kiện, chất lượng tay nghề và chất lượng bề mặt phải được đáp ứng, khi được kiểm tra bằng cách xem xét.

Nhãn phải rõ ràng và được kiểm tra bằng cách xem xét. Nhãn phải phù hợp với các yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

4.4.2. Kích thước [kiểm tra bằng dưỡng]

Các kích thước được chỉ ra trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải kiểm tra bằng dưỡng và phải phù hợp với các giá trị được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Khi áp dụng, các phép đo phải được thực hiện phù hợp với IEC 60294.

Biến dạng của các linh kiện phải được kiểm tra bằng thiết bị quang, và phải phù hợp với các kích thước quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Thiết bị quang phải có đủ độ phóng đại và độ phân giải hình học để đảm bảo độ chính xác bằng 10 % dung sai kích thước cho phép.

4.4.3. Kích thước [kiểm tra cụ thể]

Tất cả các kích thước được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy định.

4.5. Điện trở

4.5.1. Phương pháp thử nghiệm

Các phép đo điện trở được thực hiện bằng cách sử dụng điện áp một chiều trị số thấp trong một thời gian càng ngắn càng tốt để nhiệt độ của điện trở tăng không đáng kể khi đo.

Trường hợp các kết quả mâu thuẫn nhau do điện áp thử nghiệm này thì các điện áp cho trong Bảng 2 được sử dụng để làm trọng tài.

Bảng 2 - Điện áp đo

Độ chính xác của phương pháp đo phải sao cho sai số tổng không vượt quá 10% đúng sai. Khi phép đo là một phần của trình tự thử nghiệm thì phải có thể đo sự thay đổi của điện trở với sai số không vượt quá 10 % của sự thay đổi lớn nhất cho phép đối với trình tự thử nghiệm này.

Ngoài các quy định đối với mục đích chuẩn, các điểm đo điện trở phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần tương ứng.

Đối với các điện trở có chứa chỉ, việc xác định thích hợp cần dựa vào khoảng cách xác định từ thân điện trở.

Đối với điện trở SMD, việc xác định thích hợp cần dựa vào việc tham chiếu đến phía linh kiện trên đó điện trở được đo.

Tính tái lập của phép đo là rất quan trọng, do đó, việc xác định có thể không bao gồm ảnh hưởng của lắp đặt mẫu, ví dụ, ảnh hưởng của chất hàn để gắn.

4.5.2. Yêu cầu

Giá trị điện trở ở 20 °C phải tương ứng với điện trở danh nghĩa có tính đến dung sai quy định.

4.6. Điện trở cách điện

CHÚ THÍCH: Thử nghiệm này chỉ áp dụng cho điện trở được cách điện.

4.6.1. Phương pháp thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện theo một trong bốn phương pháp dưới đây, như mô tả trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan. Phương pháp khối V là phương pháp ưu tiên cho các điện trở không có cơ cấu lắp đặt.

4.6.1.1. Phương pháp khối - V

Điện trở được kẹp vào máng kim loại khối V 90° có kích thước sao cho thân điện trở không nhô ra ngoài khối.

Lực kẹp phải đảm bảo sự tiếp xúc tốt giữa điện trở và khối. Chọn lực kẹp phù hợp để không làm phá hủy hoặc làm hư hại điện trở.

Điện trở được định vị như sau:

a] với điện trở hình trụ: Điện trở được định vị trong khối sao cho chân xa nhất, tính từ trục của điện trở, là gần nhất với một trong các mặt của khối;

b] với điện trở hình chữ nhật: Điện trở phải được định vị trong khối sao cho chân gần nhất, so với gờ của điện trở, là gần nhất với một trong các mặt của khối.

Với các điện trở hình trụ và hình chữ nhật có các chân dọc trục: điểm nhô ra của các chân điện trở tính từ thân có vị trí ngoài tâm bất kỳ thì được bỏ qua.

4.6.1.2. Phương pháp lá kim loại

Đây là phương pháp thay thế dùng cho các điện trở không có cơ cấu lắp đặt.

Lá kim loại được quấn sát xung quanh thân điện trở.

Với các điện trở không có các chân dọc trục, cần để khoảng trống từ 1 mm đến 1,5 mm giữa mép của lá kim loại và mỗi chân điện trở.

Với các điện trở có các chân dọc trục, lá kim loại được quấn quanh toàn bộ thân điện trở sao cho thừa ra ở mỗi đầu ít nhất là 5 mm, với điều kiện là duy trì khoảng cách tối thiểu giữa lá kim loại và chân điện trở là 1 mm. Các đầu của lá kim loại không được gập lên các đầu của điện trở.

4.6.1.3. Phương pháp dùng cho các điện trở có cơ cấu lắp đặt

Các điện trở được lắp đặt theo cách thông thường trên một tấm kim loại [hoặc giữa hai tấm kim loại] nhô ra ngoài ít nhất là 12,7 mm [0,5 inch] về tất cả các hướng so với bề mặt lắp đặt của điện trở.

4.6.1.4 Phương pháp dùng cho các điện trở chíp hình chữ nhật

Thử nghiệm được thực hiện với điện trở được đặt như Hình 1.

Lực kẹp của lò xo là 1,0 N ± 0,2 N, nếu không có quy định nào khác cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể. Điểm tiếp xúc của khối kim loại được cố định ở chính giữa để đảm bảo các kết quả được lặp lại tốt.

Chú giải

Hình 1 - Gá thử nghiệm điện trở cách điện và chịu điện áp đối với các điện trở chíp hình chữ nhật

4.6.1.5. Phương pháp dùng cho các điện trở hình trụ

Thử nghiệm được thực hiện với điện trở lắp đặt như Hình 2.

Lực kẹp của lò xo là 1,0 N ± 0,2 N, nếu không có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Kích thước L1 của khối thử nghiệm được chọn sao cho khoảng cách nhỏ nhất của chỗ tiếp xúc là 0,5 mm.

Chi tiết của gá

Chú giải

Hình 2 - Gá thử nghiệm điện trở cách điện và chịu điện áp đối với điện trở chíp hình trụ

4.6.2 Điều kiện đo

Với tất cả các điện trở, trừ điện trở chíp, điện trở cách điện phải được đo giữa một cực là hai chân điện trở nối với nhau và cực kia là khối V, hoặc lá kim loại hay là cơ cấu lắp đặt điện trở. Điện áp đo là 100 V ± 15 V một chiều đối với các điện trở có điện áp cách điện nhỏ hơn 500 V, hoặc 500 V ± 50 V một chiều với các điện trở có điện áp cách điện lớn hơn hoặc bằng 500 V.

Với các điện trở chíp, điện trở cách điện được đo bằng điện áp một chiều 100 V ± 15 V hoặc điện áp bằng với điện áp cách điện giữa hai điểm thử nghiệm A và B như chỉ ra ở Hình 2 [điểm A là cực dương].

Điện áp được duy trì trong 1 min hoặc ngắn hơn, đủ để đạt sự ổn định; điện trở cách điện được đọc ở cuối giai đoạn này.

4.6.3. Yêu cầu

Điện trở cách điện không được nhỏ hơn giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.7. Chịu điện áp

4.7.1. Phương pháp thử nghiệm

Thử nghiệm được thực hiện theo một trong số các phương pháp quy định ở 4.6.1 như cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

Phương pháp khối V là phương pháp ưu tiên cho các điện trở không có cơ cấu lắp đặt.

4.7.2. Điều kiện thử nghiệm

Với tất cả các điện trở, trừ điện trở chíp, điện áp thử nghiệm được đặt giữa một cực là các chân điện trở nối với nhau và cực kia là khối V bằng kim loại, hoặc lá kim loại hay [các] tấm lắp đặt. Điện áp thử nghiệm là điện áp xoay chiều [từ 40 Hz đến 60 Hz] và được tăng với tốc độ 100 V/s, từ 0 cho tới giá trị đỉnh bằng 1,42 lần điện áp cách điện quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Sau khi đạt được điện áp quy định thì điện áp được duy trì trong thời gian 60 s ± 5 s.

Với điện trở chíp, điện áp xoay chiều [từ 40 Hz đến 60 Hz] với giá trị đỉnh bằng 1,42 lần điện áp cách điện được duy trì trong thời gian 60 s ± 5 s giữa hai điểm thử nghiệm A và B như Hình 1 và Hình 2. Điện áp phải được tăng từ từ với tốc độ 100 V/s.

4.7.3. Yêu cầu

Không được xảy ra phóng điện đánh thủng [nghĩa là dòng rò > 10 µA] hoặc phóng điện bề mặt.

4.8. Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ

4.8.1. Ổn định trước

Điện trở được làm khô theo quy trình I hoặc quy trình II của 4.3, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.8.2. Nhiệt độ đo

Điện trở được duy trì lần lượt ở một trong các nhiệt độ sau hoặc ở các nhiệt độ khác được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

a]

b] nhiệt độ mức dưới ± 3 °C

c]

d] nhiệt độ mức trên ± 2 oC

e]

4.8.3. Quy trình đo

Các phép đo điện trở được thực hiện lần lượt ở các nhiệt độ xác định trong 4.8.2 sau khi điện trở đạt ổn định nhiệt.

Điều kiện ổn định nhiệt được coi là đạt được khi hai giá trị đọc của điện trở được lấy cách nhau ít nhất 5 min không sai khác nhau một lượng lớn hơn khả năng phân biệt được của thiết bị đo.

Nhiệt độ của điện trở tại thời điểm đo được ghi lại. Sai số của nhiệt độ khi đo không lớn hơn 1 °C.

4.8.4. Tính hệ số nhiệt của điện trở α

Hệ số nhiệt của điện trở α từ nhiệt độ 20 °C đến mỗi nhiệt độ khác cho trong 4.8.2 được tính theo công thức sau:

trong đó

T là chênh lệch đại số, tính bằng kenvin, giữa nhiệt độ môi trường xung quanh quy định và nhiệt độ chuẩn;

R là thay đổi điện trở giữa hai nhiệt độ môi trường xung quanh quy định;

R là giá trị điện trở ở nhiệt độ chuẩn.

Hệ số nhiệt điện trở [α] được tính theo phần triệu trên °C [10-6/oC]

Nếu các giá trị điện trở ở 4.8.3 được ký hiệu là Ra, Rb, Rc, Rd và Re, thì R và R được cho như ở Bảng 3.

Bảng 3 - Tính giá trị điện trở và sự thay đổi điện trở [AR]

Nếu các nhiệt độ ghi lại ở 4.8.3 được ký hiệu là Ta, Tb, Tc, Td và Te, thì chênh lệch về nhiệt độ [T] giữa các nhiệt độ ghi lại được tính theo Bảng 4.

Bảng 4 - Tính chênh lệch nhiệt độ [T]

4.8.5. Yêu cầu

Hệ số nhiệt điện trở [α], như mô tả ở trên, nằm trong các giới hạn cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể với mức nhiệt độ tương ứng.

Khi giá trị của điện trở lớn hơn 5 Ω nhưng nhỏ hơn 10 Ω thì hệ số nhiệt không vượt quá hai lần các giới hạn cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, ứng với các điện trở có giá trị lớn hơn hoặc bằng 10 Ω.

CHÚ THÍCH: Hệ số nhiệt điện trở là không quy định cho các điện trở có giá trị nhỏ hơn 5 Ω do khó đạt được các phép đo chính xác.

4.9. Điện kháng

4.9.1. Quy trình thử nghiệm

Thử nghiệm điện kháng chỉ áp dụng với các điện trở cần có giá trị điện kháng thấp và được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể. Đây là thử nghiệm thích hợp cho các điện cảm trong dải tương ứng của các điện trở dây quấn. Thiết bị đo, như cho ở Hình 3, có thể sử dụng với các điện trở có hằng số thời gian L/R lớn hơn 20 ns. Dải giá trị điện trở có thể thử nghiệm là từ 100 Ω đến 1 MΩ.

Có thể sử dụng máy phân tích trở kháng thích hợp để thay cho mạch thử nghiệm được chỉ ra trên Hình 3, xem 4.9.5.

1 máy phát xung

2 máy hiện sóng

Rx: điện trở cần thử nghiệm

RL: điện trở thuần có giá trị gần bằng 0,1. Rx

CHÚ THÍCH: Độ dài của dãy nối giữa máy phát xung và điện trở Rx không vượt quá 50 mm.

Hình 3 - Mạch thử nghiệm

4.9.2 Yêu cầu kỹ thuật đối với máy phát xung

Máy phát xung phải có các đặc tính sau:

a] Độ rộng xung: Đủ để phủ hết 3 lần chu kỳ L/R

b] Thời gian tăng trên tải [từ 10 % đến 90 %]: nhỏ hơn 3 ns

c] Tốc độ lặp lại: lớn hơn 10 kHz, hoặc để đọc rõ kết quả trên máy hiện sóng.

4.9.3 Yêu cầu kỹ thuật của máy hiện sóng

a] Thời gian tăng [từ 10 % đến 90 %]: nhỏ hơn 37 ns [đáp tuyến tần số, 100 MHz hoặc tốt hơn]

b] Thang thời gian: 2 ns/1 mm hoặc nhanh hơn

c] Điện dung vào tại RL là 25 pF hoặc nhỏ hơn

d] Độ khuếch đại đủ lớn để có thể đọc kết quả tốt khi sử dụng điện áp xung.

4.9.4. Phép đo

Hằng số thời gian L/R được tính bằng khoảng thời gian từ khi bắt đầu có xung đến khi điện áp đạt được 63,2% giá trị lớn nhất [xem Hình 4]. Nếu có nhiễu hoặc méo khi bắt đầu tăng lên thì điểm điện áp zero có thể được xác định bằng cách kéo dài đường cong. Nếu không có điểm nhô lên của xung hoặc dao động và hằng số thời gian L/R lớn hơn 20 ns thì có thể sử dụng công thức sau với độ chính xác đủ theo yêu cầu:

Điện cảm hiệu dụng [H] = L/R [s] x R [Ω].

CHÚ THÍCH: Giới hạn trong yêu cầu kỹ thuật có thể được ấn định dưới dạng thời gian L/R lớn nhất hoặc rút ra từ tính toán dưới dạng điện cảm lớn nhất.

4.9.5. Máy phân tích trở kháng

Phải sử dụng máy phân tích trở kháng cao tần hoặc thiết bị thử nghiệm tương đương.

Tần số đo phải được lấy từ yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.10. Tính phi tuyến

Đo tính phi tuyến của điện trở theo IEC 60440. Điện áp đặt vào phải là điện áp danh định hoặc điện áp giới hạn của linh kiện, chọn giá trị nào khắc nghiệt hơn. Khi có yêu cầu đặc biệt về tính phi tuyến thì phải được cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

4.11. Hệ Số điện áp

4.11.1. Ổn định trước

Điện trở phải được làm khô, theo quy trình I hoặc quy trình II ở 4.3, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.11.2. Phương pháp đo

Sau đó, điện trở được đo ở 10 % và 100 % điện áp danh định hoặc giới hạn điện áp phần tử, chọn giá trị nào nhỏ hơn. Trong mỗi chu kỳ 5 s thì 100 % điện áp được đặt không lâu hơn 0,5 s; còn lại 4,5 s đặt 10 % điện áp. Cần chú ý để điện trở không bị tăng nhiệt độ đáng kể.

4.11.3 Tính hệ số điện áp

Hệ số điện áp thường được tính bằng phần trăm trên vôn và phải tính theo công thức sau:

trong đó:

U là điện áp đặt cao hơn;

R1 là điện trở đo tại 0,1 xU;

R2 là điện trở đo được tại U.

4.11.4. Yêu cầu

Giá trị của hệ số điện áp không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.12. Tạp âm

Các điện trở phải chịu các quy trình cho trong IEC 60195.

4.13. Quá tải ngắn hạn

4.13.1. Phép đo ban đầu

Đo điện trở như quy định ở 4.5.

4.13.2. Quy trình thử nghiệm

Điện trở được đặt nằm ngang. Với các điện trở dây quấn, trục quấn phải nằm ngang. Điện trở được đặt trong không khí lưu thông tự do ở nhiệt độ môi trường xung quanh trong khoảng 15 °C đến 35 °C. Sau đó đặt điện áp vào hai đầu điện trở. Giá trị điện áp và thời gian đặt điện áp được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Việc đấu nối được thực hiện theo cách thông thường. Với điện trở có các đầu để hàn thì nối bằng dây đồng có đường kính xấp xỉ 1,0 mm. Yêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định cách bố trí lắp đặt đặc biệt.

4.13.3 Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu cầu

Sau khoảng thời gian phục hồi không ít hơn 1 h và không nhiều hơn 2 h, điện trở phải được kiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng.

Sau đó điện trở được đo như quy định ở 4.5. Sự thay đổi của điện trở, tương ứng với giá trị đo ở 4.13.1, không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.

4.14. Độ tăng nhiệt

4.14.1. Đối tượng

Các điện trở có giá trị điện trở danh nghĩa nhỏ hơn giá trị điện trở tới hạn phải chịu các thử nghiệm dưới đây.

4.14.2. Lắp đặt

Điện trở được đặt nằm ngang. Với các điện trở dây quấn, trục quấn phải nằm ngang. Việc đấu nối được thực hiện theo cách thông thường. Với điện trở có các đầu để hàn thì nối bằng dây đồng có đường kính xấp xỉ 1,0 mm.

Điện trở chíp [SMD] phải được lắp đặt bình thường lên tấm mạch in dạng tấm mỏng len kính epoxy phủ đồng dày 1,6 mm như quy định, ví dụ, trong IEC 61249-2-7, IEC 61249-2-22 hoặc IEC 61249-2-35. Nền nhôm dày 0,635 mm có thể được sử dụng nếu được quy định rõ ràng trong yêu cầu kỹ thuật liên quan cho điện trở được lắp ráp và hoạt động điển hình trên nền đó.

4.14.3. Quy trình thử nghiệm

Nhiệt độ môi trường xung quanh đối với thử nghiệm phải từ 15 °C đến 35 °C. Không được có lưu thông không khí nào khác ngoài đối lưu tự nhiên do điện trở nóng lên.

Điện áp sử dụng là điện áp danh định.

Sau khi điện trở đạt được cân bằng nhiệt thì đo nhiệt độ tại điểm nóng nhất trên bề mặt của điện trở. Thiết bị đo nhiệt độ phải có kích thước sao cho không ảnh hưởng đến kết quả đo.

4.14.4. Yêu cầu

Độ tăng nhiệt không được vượt quá giá trị quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

Nếu thuộc đối tượng áp dụng, nhiệt kế hồng ngoại, được hiệu chuẩn đúng, phải được sử dụng cho phép đo nhiệt độ.

4.15. Độ vững chắc của thân điện trở

4.15.1. Đối tượng

Điện trở có chiều dài thân không nhỏ hơn 25 mm phải chịu thử nghiệm dưới đây.

4.15.2. Quy trình thử nghiệm

Thân của điện trở được đỡ tại hai đầu, khoảng cách từ vị trí đỡ tới các đầu điện trở không lớn hơn 5 mm. Trụ đỡ có bán kính không nhỏ hơn 6 mm. Một lực nén, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, tác động từ từ vào điểm giữa của thân điện trở theo hướng vuông góc với trục trong thời gian 10 s. Tải được đặt thông qua một chi tiết có bán kính không nhỏ hơn 6 mm [xem Hình 5].

4.15.3. Yêu cầu

Sau thử nghiệm này, thân điện trở không được nứt hoặc gẫy.

1 trụ đỡ

2 chi tiết qua đó tải được đặt vào

3 tải

Hình 5 - Thử nghiệm độ vững chắc của thân điện trở

4.16. Độ vững chắc của các chân điện trở

4.16.1. Phương pháp thử nghiệm

Các điện trở phải chịu các thử nghiệm Ua1, Ub, Uc và Ud của IEC 60068-2-21, nếu thuộc đối tượng áp dụng.

Giá trị điện trở được đo như quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.

4.16.2. Thử nghiệm Ua1 - Kéo

Lực kéo đặt vào là:

- 20 N, đối với các chân không phải dạng dây;

- đối với các chân dạng dây, xem Bảng 5.

Bảng 5 Lực kéo dùng cho các chân dạng dây